KT-20是一款手持式仪器，具有不同的测量模块，可测量样品的磁化率，电导率，极化率和电阻率以及密度。其模块化设计使KT-20具有多种测量功能配置，并且可以随时添加新模块或升级。KT-20提供一系列具有不同形状和频率的传感器。用户可以在仪器上互换传感器，使KT-20能够适应不同尺寸和类型的样品，应用于各种场景。KT-20 仪器包含许多内置功能，除去常规功能外，其他功能还包括： GPS接收器，拍摄样品的数码相机，记录语音注释的麦克风以及用于输入文本注释的虚拟键盘等。

Orbis系列微束X射线荧光光谱仪对不规则及不导电的大样品进行无损检测，样品无需镀膜。通过光学显微镜引导，激光定位辅助进行原位微区分析，在低真空或大气环境中性能稳定，更好的分析检测限，测量从Na到BK的元素，能有高精度、高灵敏度的定性及定量分析结果。

SisuROCK是芬兰SPECIM公司专门针对岩芯以及其它地质矿石样品开发的高速推扫式高光谱成像分析工作站，设备操作简单，自动化程度高，具有对单个岩芯以及整箱岩芯进行高速高光谱数据采集的模式，非常适合地质矿产用户的应用。SisuROCK配备了SPECIM公司的高性能的高光谱相机，可以对地质产品进行快速的高光谱数据收集。SisuROCK不仅可以作为一种高效率、高吞吐量的生产工具在矿业生产中广泛使用，也可以作为一种功能强大且灵活的分析手段应用到地质研究领域。

TIMA综合矿物分析系统是基于SEM的岩石矿物全自动化定量分析系统，能同时进行高分辨率的背散射（BSE）与X射线能谱（EDX）快速成像，并配备专业的矿物处理软件辅助分析结果和生成报告。TIMA可以对岩石、矿石、岩屑、精矿、尾矿、浸出渣或冶炼产品等进行快速定量矿物分析，能高效识别岩石类型、矿物种类、测量矿物含量、分布、颗粒大小、解离或锁定各种参数。

Itrax XRF Scanners是专为地质勘探设计的快速、无损、连续测量全岩芯XRF元素综合分析系统

MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮度肖特基场发射电子枪，在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程，从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。 MIRA 具有创新的光学设计，确保在需要时可以随时无缝地选择成像或分析条件，而无需对镜筒内的任何元件重新进行机械对中；借助完全集成的 Essence™ EDS 软件，可以快速、轻松地从成像切换到分析操作模式，一键即可实现设置参数的更改。

RISE拉曼-电镜一体化系统(Raman Imaging and Secondary Electron microscopy)可基于TESCAN所有型号的电镜平台，既可分别实现超高放大倍率的纳米级成像和化合物分子拉曼谱图分析，又可同时完成BSE和拉曼2D、3D原位叠加图像。多角度检测分析方式集成同一平台，强大的矿物数据库分析系统，快速比对峰位谱图信息识别矿物并生成报告。样品制备要求低，RISE高分辨率快速无损的微区原位分析，已广泛应用于地质、石油、煤炭、石墨烯等应用方向。

这是一款切割超长岩芯的专用设备，特制的刀具能自动，快速，高效地切割超长大型岩芯样品，在不破坏岩心整体原有特性的情况下，可切割的岩心长度可达1至1.5米，切面十分平滑。

这是一款切割超长岩芯的专用设备，特制的刀具能自动，快速，高效地切割超长大型岩芯样品，在不破坏岩心整体原有特性的情况下，可切割的岩心长度可达1至1.5米，切面十分平滑计可平整光洁地切剖完成全直径岩心的切剖工作，并不破坏岩心整体特性。